News

Wissenschaftler entwickeln ein Speichermedium aus Eierschalen

Diese Eierschalen haben ungeahnte Speicherfähigkeiten.
Diese Eierschalen haben ungeahnte Speicherfähigkeiten. (©Thinkstock/cipryanu 2017)

Nach einem ausgiebigen Brunch mit Freunden oder Familie bleiben meist unweigerlich Eierschalen für den Biomüll übrig. Dass sie dafür viel zu schade sind, entdeckten jetzt Wissenschaftler aus China. Sie stellten fest, dass die zerbrochene Schale Daten speichern kann.

Natürlich ist das nicht ganz so einfach mit den Resten vom Frühstücksei möglich. Die Forscher aus dem Guizhou Institute of Technology ließen den Schalen eine ganz bestimmte Behandlung zukommen und schufen so einen elektronischen Speicher, genauer gesagt einen Resistive Random Access Memory (ReRAM). Anstatt die Ladung wie herkömmliche Speichermedien zu speichern, arbeitet ReRam, indem ein elektrischer Widerstand über einem dielektrischen Festkörpermaterial erzeugt wird. ReRam ist die nächste Generation der Speichermedien und könnte mit Schnelligkeit, mehr Speicherdichte und weniger Energieverbrauch punkten, so New Scientist.

Zermahlene Eierschalen sind die Grundlage

Nach einem Marktbesuch, bei dem die Wissenschaftler eine willkürliche Auswahl an Eier kauften, mahlten sie die Eierschalen für drei Stunden, sodass ein extrem feines Puder im Nanobereich entstand. Es wurde getrocknet und anschließend zu einer Lösung gegeben. Mit der daraus entstandenen Paste ummantelten die chinesischen Forscher ein Trägermaterial, um daraus den Elektrolytteil des Speicherchips zu bilden. Das ist der Teil des Speicherchips, der die elektrische Ladung trägt.

Die Zukunft der Datensicherung?

Und diese Konstruktion funktionierte erstaunlich gut. Es war den Wissenschaftlern möglich, 100 Bits an binären Codes zu speichern, bevor das eierschalenbasierte Gerät zusammenbrach. Das ist vergleichsweise wenig, doch eine wichtige Entdeckung auf der Suche nach günstigeren und umweltfreundlicheren Materialien für die Datensicherung, so die Forscher. Ihre Ergebnisse veröffentlichten sie in der aktuellen Ausgabe des Wissenschaftsjournals Current Applied Physics.

Artikel-Themen

Weitere Artikel zum Thema

close
Bitte Suchbegriff eingeben